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製造・品質管理 2026年更新

クリーンルーム環境モニタリングサービス一覧

半導体・製薬工場向けにISO 14644準拠の清浄度測定・微粒子モニタリングを提供する環境モニタリングサービスの一覧。第三者による客観的な適格性評価で製造環境の品質を保証。

収録データ項目

企業名
所在地
サービス範囲
測定項目
準拠規格
対応業種
測定機器
校正・保守
連続監視
認証支援

データプレビュー

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企業名所在地サービス範囲測定項目
ニッタ株式会社東京都・奈良県全国対応(東京・奈良2拠点)気中粒子・微生物・清浄度
株式会社住化分析センター大阪府半導体・液晶・HDD向けケミカル汚染分析AMC分析・粒子・有機物・金属
株式会社日立プラントサービス東京都産業用クリーンルーム一貫対応温湿度・圧力・気流・微粒子
リオン株式会社東京都パーティクルカウンター校正・保守気中粒子(0.1-25μm)・清浄度
蒲田工業株式会社東京都全国・3極GMP対応微生物・微粒子・温湿度・室圧

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クリーンルーム環境モニタリングサービスとは

クリーンルーム環境モニタリングサービスは、半導体製造・医薬品製造・バイオテクノロジーなどの産業において、製造環境の清浄度を維持するための専門サービスです。ISO 14644-1:2015やGMP規制に基づき、気中微粒子濃度・温湿度・室圧・気流・微生物汚染などを定期的に測定し、製造環境の適格性を客観的に評価します。

半導体の前工程ではISOクラス3-4(0.1μm粒子管理)、製薬工場ではクラス5-7の清浄度が要求され、自社保有のパーティクルカウンターでは校正管理やデータ完全性の担保が困難なため、第三者の専門サービスによる測定・認証が業界標準となっています。グローバル市場では環境モニタリングシステム市場が2024年の18億ドルから2033年には35億ドルに成長すると予測され、IoT・AI技術の導入により連続監視とリアルタイム異常検知が進化しています。

日本国内では、ニッタ株式会社や住化分析センター、日立プラントサービス、リオン、蒲田工業などが30年以上の実績を持ち、パーティクルカウンター校正からケミカル汚染分析、クリーンルーム認証支援まで包括的なサービスを提供しています。

よくある質問

Q.クリーンルーム環境モニタリングの測定頻度は?

ISO 14644-2では、リスクアセスメントに基づき企業が定期的な分類テストスケジュールを確立します。一般的には、クリーンルーム認証は年1-2回、日常的な環境モニタリングは連続または週次で実施されます。製薬工場では無菌医薬品製造区域で連続監視が推奨され、半導体工場では製造プロセスに応じて粗大粒子(≧5μm)の定期測定が行われます。

Q.自社パーティクルカウンターと外部サービスの違いは?

自社保有の機器では校正管理(ISO 21501-4/JIS B 9921準拠)の維持コストが高く、データ完全性の担保が困難です。第三者の専門サービスは、校正済み機器による客観的測定、規制当局への報告用データ提供、異常時の原因分析とコンサルティングを含み、GMP監査や規制対応に有効です。また、最新のIoT・AI技術による連続監視システムで予兆検知が可能です。

Q.ケミカル汚染分析(AMC)とは何ですか?

気中分子状汚染物質(AMC)は、粒子とは異なるガス・ミスト・揮発性物質で、半導体や精密電子デバイス製造において歩留まりに影響します。A(酸性)、B(塩基性)、C(凝集性有機物)、D(ドーパント)、M(金属)、V(超揮発性有機化合物)の6グループに分類され、イオンクロマトグラフ法、GC/MS法、ICP/MS法により定性・定量分析されます。住化分析センターなどが高感度測定技術を提供しています。

Q.リクエスト時にAIがWebをクロールして最新データを取得しますか?

はい。データリクエスト時にAIエージェントがリアルタイムでWebをクロールし、各サービス企業の最新の連絡先、サービス内容、対応規格、測定項目、料金体系を収集します。これにより、ISO規格改訂や新技術導入(IoTセンサー、クラウド監視システムなど)に対応した最新情報を提供できます。